Подсубпозиция ТН ВЭД 9031 41 000 0
Оптические приборы и устройства для проверки полупроводниковых пластин или устройств или для проверки фотомасок или фотошаблонов, используемых в производстве полупроводниковых приборов
Документы подсубпозиции ТН ВЭД 9031 41 000 0 из РФ декларации-соответствия.рус
-
Дата
регистр. Регистрационный номер
и продукция Производитель / Заявитель Схема - 13 Ноя '24 1д
-
02 Авг '24
Установка контроля топологии и поиска дефектов на фотошаблонах с хромовым маскирующим покрытием1д
ТН ВЭД 9031 41 000 0
РЕГЛАМЕНТ 004 • 020
- 26 Июн '24 1д
- 20 Мар '24 1д
- 09 Ноя '23 1д
-
26 Сен '23
Установка автоматизированного контроля дефектов внешнего вида имс на полупроводниковой пластине1д
ТН ВЭД 9031 41 000 0
РЕГЛАМЕНТ 004 • 020
- 09 Июн '23 1д
- 29 Апр '23 1д
- 26 Дек '22 1д
-
07 Дек '22
Оборудование для осуществления параметрического электрического контроля кристаллов интегральных схем и сверхбольших интегральных схем на пластине1д
ТН ВЭД 9031 41 000 0
РЕГЛАМЕНТ 004 • 020
- 26 Окт '22 1д